选用TCA-1热循环条件，芯片温度最高-45℃~85℃，分别在最高温度及最低温度处停留10分钟，一个循环大约需要78分钟；每个温度周期内，在温度>25℃时，周期性施加1.25*Isc（7A）的电流10次。表2为部分接收器在经过超过1000个热循环后的老化前后电性对比，电性测试使用脉冲聚光太阳模拟器，由于实验时间跨度时间较长，考虑到不同时间测试仪器本身的误差，本实验选取标准片作为监控，测试仪测量误差±5%。试验表明，聚光太阳电池芯片在经过1000个循环后电性总体衰减不明显，但划伤半导体及芯片大面积暗区的样品，其电性衰减较大；实验过程中，接收器出现绝缘胶裂开、DBC从铝板脱落、导线表皮收缩等，都是由于温度高于材料其本身所以承受的最高温度导致。

　　3 聚光太阳电池的湿-热测试

    湿-热测试的目的是确定太阳电池或接收器组件承受长期湿气浸扰影响的能力。对高倍聚光接收器而言，湿-热测试可能发生的失效机理应包括接收器密封、划伤半导体或减反射膜承受长期湿气浸扰受到破坏。表3给出湿-热测试条件选项。