聚光太阳电池的可靠性和失效模式与大功率LED芯片的可靠性和失效模式也很多的共同点，三结电池的顶电池是GaInP材料，其带隙约为1.85eV，在通电情况下，发光波长约为680nm，是可见光，对太阳电池接收器通电压（称为亮灯测试），即可以简单判断太阳电池芯片有无异常。在太阳电池的外延、后续芯片工艺制程和接收器封装制程中，通常不可避免的会引入对芯片的损伤，通过亮灯测试，可以观察芯片的损伤类型，经我们的实验观察，异常芯片类型在亮灯测试条件下体现为亮点、暗点、暗斑和暗条纹，亮点和暗点可能源于芯片缺陷或是沾污，暗斑可能源于芯片漏电，电流在芯片上分布不均，而暗条纹可能源于栅线电极脱落或人为的芯片划伤。图4(a)~(d)分别给出亮点、暗条纹（栅线电极脱落）、暗斑和划伤的太阳电池接收器亮灯测试图片。