本文摘要：作者：天威薄膜光伏有限公司 产品项目主管李宏 首席技术官麦耀华 封装技术对薄膜太阳能电池的可靠性和寿命有着重要影响，选用高可靠性...

           
　　　　                  图三、边缘密封技术双层玻璃结构薄膜硅太阳能组件

　　下图给出此设计方案制作出的薄膜硅太阳能组件的湿热环境测试可靠性结果，在整个测试期间，对薄膜硅太阳能组件的输出功率和湿漏绝缘电阻进行监测，5000小时后，组件的功率仍然没有出现下降（图四），组件的湿漏绝缘电阻虽有所下降，仍然高于IEC规定的40MΩom2的标准（图五）；这些结果远远高于目前的1000小时的IEC湿热环境测试标准。
       
　　图四、高性能边缘密封薄膜硅太阳能组件功率随湿热测试时间变化曲线
     
　　图五、高性能边缘密封薄膜硅太阳能组件绝缘电阻随湿热测试时间变化曲线

　　薄膜硅太阳能组件正朝着低成本、高可靠性的方向发展，薄膜太阳能组件户外实际使用的过程中，湿气的入侵程度对其输出功率有着很大的影响，因而也决定着薄膜硅太阳能组件的发电性能；虽然目前的薄膜硅太阳能组件多数均能满足IEC相关测试标准，但进一步优化薄膜硅太阳能组件产品设计，选用高可靠性、低成本的封装材料和工艺技术，并确保生产工艺的稳定性和可靠性，是实现薄膜硅太阳能组件更低成本、更高可靠性的主要途径之一。