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(In,Ga)xSey预置层成分和结构对CIGS吸收层性质的影响
发布时间:2013-07-31    编辑:haoshiguang   
本文摘要:   王赫,赵岳,申绪男,杨亦桐,赵彦民,乔在祥   (中国电子科技集团公司第十八研究所,天津300381,联系电话:23771301 传真:2377...
 
  王赫,赵岳,申绪男,杨亦桐,赵彦民,乔在祥
 
  (中国电子科技集团公司第十八研究所,天津300381,联系电话:23771301 传真:23778216 邮箱:wanghe632@163.com)
 
  摘要:在聚酰亚胺衬底(PI衬底)上制备CIGS薄膜太阳电池,由于不同材料热膨胀系数不同,CIGS薄膜与PI/Mo衬底之间会出现断层甚至脱落的现象。先前的研究表明,在沉积CIGS吸收层之前预先沉积100-200nm左右的(In,Ga)xSey预置层,可以显著改善CIGS吸收层在衬底上的附着性。然而,报道的文献没有详细研究(In,Ga)xSey预置层性质对CIGS薄膜结构特性的影响。并且,先前关于卷对卷工艺沉积(In,Ga)xSey预置层性质的研究很少。本文采用卷对卷连续蒸发工艺沉积CIGS吸收层,详细研究了(In,Ga)xSey预置层的成分和结构对CIGS薄膜结构特性的影响。首先在衬底温度(Tsub)为500℃、450℃和400℃时,预先沉积具有不同成分比例的(In,Ga)xSey预置层,Ga/(In+Ga)的范围为0.35-0.7,(In,Ga)xSey薄膜的厚度为150nm。然后,沉积厚度约为1.6um的CIGS吸收层。采用X射线衍射、X射线荧光、扫描电子显微镜和原子力显微镜等方法分析了(In,Ga)xSey预置层和CIGS薄膜的成分比例和结构。研究结果表明,Tsub≥450℃时,(In,Ga)xSey预置层具有较好的结晶质量,其对CIGS薄膜结构特性的改善具有较大贡献;同时,不同衬底温度沉积的(In,Ga)xSey预置层对CIGS薄膜附着性的影响较小。在Tsub=500℃时,(In,Ga)xSey预置层的Ga/(In+Ga)超过0.5以后,(In,Ga)xSey预置层和CIGS薄膜的结晶质量下降,CIGS薄膜表面粗糙度增大,晶粒之间出现较深的裂痕。这主要归因于在衬底温度低于500℃时,过高的Ga含量使形成CIGS化合相的速率较慢,大量CuxSe相积累造成的。吸收层生长过程中过高的Max[Cu/(In+Ga)]对CIGS薄膜结构特性的影响显著,这可能不利于CIGS薄膜电池性能的提高。
 
  关键词:(In,Ga)xSey预置层,CIGS薄膜,卷对卷连续蒸发工艺,薄膜结构,衬底温度
 
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  注:文章所属研究主题为“CIGS、CdTe 和其它化合物薄膜太阳电池”
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